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元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中，IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度（-85℃至+ 250℃）下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬。微處理器芯片測試裝置chiller常見(jiàn)故障
更新時(shí)間：2025-01-12
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
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